圧電式動的力（荷重）測定技術は、半導体製造における品質保証と生産性に対する要件の高度化に対応するために欠かせない技術となっています、優れた効率性を発揮するプロセス監視手法は、作用する力が非常に小さい場合でも高分解能かつ高い繰返し精度を実現し、検査プロセスにも適しています。
この測定技術は、コンピュータ・通信・家電（3C）製品などの電気・電子部品の製造プロセスにも活用できます。動的力（荷重）とトルクの測定に基づくキスラーのソリューションにより、ディスプレイをはじめとした様々な製品の複雑な組立工程を監視することができ、入力デバイスの触覚検査やバネ性能試験など、高精度の製品試験も正確に行えます。
力/変位または力/時間の監視を組み合わせた高感度なセンサ技術は、測定データをしっかり記録して見える化し、評価するための鍵となります。これが製造したコンポーネントの品質に関する貴重なデータの基礎となり、不良品をより早い段階で検知したり、選別したりすることが可能になります。
